Меню Закрыть

№2(7), стр. 52-58, 2025

Статья

Учет распределения размеров ВТСП гранул при определении критической плотности тока из магнитных измерений

Д. М. Гохфельд

Институт физики им. Л.В. Киренского ФИЦ КНЦ СО РАН, ул. Академгородок, 50/38, 660036, Красноярск, Россия

e-mail: gokhfeld@iph.krasn.ru

Ю. С. Гохфельд

Институт физики им. Л.В. Киренского ФИЦ КНЦ СО РАН, ул. Академгородок, 50/38, 660036, Красноярск, Россия

УДК 538.945

DOI: https://doi.org/10.62539/2949-5644-2025-7-2-52-58

Аннотация

Метод определения критической плотности тока из петель магнитного гистерезиса широко используется для характеризации и сравнения сверхпроводящих образцов. Для лент и монокристаллов петли магнитного гистерезиса зависят и от критической плотности тока и от размеров образца, определяющих масштаб циркуляции незатухающего тока. Однако в поликристаллических высокотемпературных сверхпроводниках, приготовленных твердофазным синтезом или золь-гель методом, намагниченность определяется циркуляцией незатухающих токов в гранулах. Связь параметров распределения размеров гранул с эффективным масштабом циркуляции тока обсуждается в работе. Рассматриваются логнормальное распределение и распределение Вейбулла. Эффективный размер, определяющий связь внутригранульной критической плотности тока и намагниченности, может значительно превышать средний размер гранул.

Ключевые слова: критический ток; намагниченность; модель критического состояния; формула Бина; масштаб циркуляции токов; логнормальное распределение; распределение Вейбулла.

Литература

[1] H.S. Ruiz, J. Hänisch, M. Polichetti, A. Galluzzi, L. Gozzelino, D. Torsello, S. Milošević-Govedarović, J. Grbović-Novaković, O.V. Dobrovolskiy, W. Lang, G. Grimaldi, A. Crisan, P. Badica, A. M. Ionescu, P. Cayado, R. Willa, B. Barbiellini, S. Eley, A. Badía–Majós, Prog. Mater. Sci. 101492 (2025). DOI: 10.1016/j.pmatsci.2025.101492
[2] E. F. Talantsev, Supercond. Sci. Technol. 32, 084007 (2019). DOI: 10.1088/1361-6668/AB1A16
[3] C. P. Bean, Rev. Mod. Phys. 36, 31 (1964). DOI: 10.1103/RevModPhys.36.31
[4] A. Sanchez, C. Navau, Supercond. Sci. Technol. 14, 444 (2001). DOI: 10.1088/0953-2048/14/7/304
[5] I. L. Landau, J. B. Willems, J. Hulliger, J. Phys. Condens. Matter 20, 095222 (2008). DOI: 10.1088/0953-8984/20/9/095222
[6] S. Senoussi, S. Hadjoudj, R. Maury, A. Fert, Physica C. 165, 364 (1990). DOI: 10.1016/0921-4534(90)90368-O
[7] Х. Р. Ростами, ЖЭТФ 134, 716 (2008). Kh. R. Rostami, J. Exp. Theor. Phys. 107, 612 (2008). DOI: 10.1134/S1063776108100087
[8] R. Prozorov, V. G. Kogan, Phys. Rev. Appl. 10, 014030 (2018). DOI: 10.1103/PhysRevApplied.10.014030
[9] Д. А. Балаев, С. В. Семёнов, Д. М. Гохфельд, М. И. Петров, ЖЭТФ 165, 258 (2024). DOI: 10.31857/S0044451024020111
[10] D. A. Balaev, S. V. Semenov, D. M. Gokhfeld, M. I. Petrov, J. Supercond. Nov. Magn. 37, 1329 (2024). DOI: 10.1007/s10948-024-06802-w
[11] D. M. Gokhfeld, J. Supercond. Nov. Magn. 36, 1089 (2023). DOI: 10.1007/s10948-023-06575-8
[12] H. Theuss, H. Kronmüller, Phys. C Supercond. Its Appl. 242, 155 (1995). DOI: 10.1016/0921-4534(94)02404-9
[13] F. E. Sánchez-Zacate, A. Conde-Gallardo, J. Supercond. Nov. Magn. 34, 3141 (2021). DOI: 10.1007/s10948-021-06048-w
[14] P. Hong, J. H. Pang, Appl. Supercond. 2, 697 (1994). DOI: 10.1016/0964-1807(94)90069-8
[15] В. В. Вальков, Б. П. Хрусталев, ЖЭТФ 107, 1221 (1995).
[16] Д. М. Гохфельд, ФТТ 56, 2298 (2014). D. M. Gokhfeld, Phys. Solid State 56, 2380 (2014).
[17] E. Altin, D. M. Gokhfeld, S. V. Komogortsev, S. Altin, M. E. Yakinci, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 24, 1341 (2013). DOI: 10.1007/s10854-012-0931-2
[18] D. M. Gokhfeld, D. A. Balaev, I. S. Yakimov, M. I. Petrov, S. V. Semenov, Ceram. Int. 43, 9985 (2017). DOI: 10.1016/J.CERAMINT.2017.05.011
[19] X. L. Zeng, T. Karwoth, M. R. Koblischka, U. Hartmann, D. Gokhfeld, C. Chang, T. Hauet, Phys. Rev. Mater. 1, 044802 (2017). DOI: 10.1103/PhysRevMaterials.1.044802
[20] D. M. Gokhfeld, M. I. Petrov, S. V. Semenov, A. D. Balaev, I. V. Nemtsev, A. D. Vasiliev, M. S. Molokeev, Ceram. Int. 50, 52213 (2024). DOI: 10.1016/j.ceramint.2024.09.268
[21] Д. М. Гохфельд, Письма в ЖТФ 45, 3 (2019). D.M. Gokhfeld, Tech. Phys. Lett. 45, 1 (2019). DOI: 10.1134/S1063785019010243