Обзор
Бесконтактные методы исследования критических параметров сверхпроводников
А. Ю. Левахова
Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН, Ленинский пр-т, 53, 119991, Москва, Россия
e-mail: levakhovaayu@lebedev.ru
С. Ю. Гаврилкин
Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН, Ленинский пр-т, 53, 119991, Москва, Россия
А. Ю. Цветков
Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН, Ленинский пр-т, 53, 119991, Москва, Россия
УДК 538.945
Аннотация
В данной работе представлен обзор основных бесконтактных методик измерения критических параметров сверхпроводниковых материалов. Проведена их классификация. Основное внимание уделено индукционным бесконтактным методикам и устройствам на их основе, как наиболее перспективным.
Ключевые слова: критический ток; высокотемпературные сверхпроводники; бесконтактные методики.
Литература
[1] J. H. Claassen, M. E. Reeves, R. J. Soulen, Rev. Sci. Instrum. 62, 996 (1991). DOI: 10.1063/1.1141991
[2] G.D. Poulin, J.S. Preston, T. Strach, Phys. Rev. B 48, 1077 (1993). DOI: 10.1103/PhysRevB.48.1077
[3] Y. Mawatari, H. Yamasaki, Y. Nakagawa, Appl. Phys. Lett. 81, 2424 (2002). DOI: 10.1063/1.1510159
[4] H. Yamasaki, Y. Mawatari, and Y. Nakagawa, Appl. Phys. Lett. 82, 3275 (2003). DOI: 10.1063/1.1571657
[5] H. Yamasaki, Y. Mawatari, Y. Nakagawa, H. Yamada, IEEE Trans. Appl. Supercond. 13, 3718 (2003). DOI: 10.1109/TASC.2003.812524
[6] Y. Mawatari, H. Yamasaki, Y. Nakagawa, Appl. Phys. Lett. 83, 3972 (2003). DOI: 10.1063/1.1625423
[7] H. Yamasaki, Y. Mawatari, Y. Nakagawa, IEEE Trans. Appl. Supercond. 15, 3636 (2005). DOI: 10.1109/TASC.2005.849378
[8] Zh. Xu, W. Zhi-Zhen, Zh. Tie-Ge, H. Ming, Zh. Xin-Jie, Y. Shao-Lin, F. Lan, Chin. Phys. B 20, 027401 (2011). DOI: 10.1088/1674-1056/20/2/027401
[9] C.P. Bean, Rev. Mod. Phys. 36, 31 (1964). DOI: 10.1103/RevModPhys.36.31
[10] J. Talvacchio, Rev. Sci. Instrum. 54, 16 (1983).
[11] W. Xing, B. Heinrich, J. Chrzanowski, C. Irwin, H. Zhou, A. Cragg, A.A. Fife, Physica C 205, 311 (1993).
[12] H. Yamada, A. Bitoh, Y. Mitsuno, I. Imai, K. Nomura, K. Kanayama, S. Nakagawa, Y. Mawatari, H. Yamasaki, Physica C 433, 59 (2005). DOI: 10.1016/j.physc.2005.09.012
[13] F. Gamboa, V. Sosa, I. Perez, J.A. Matutes-Aquino, A. Moewes. In situ comparison of the critical current density in thin films measured by the screening technique under two criteria // arXiv.com, 2013. URL: https://arxiv.org/abs/1304.1475
[14] M. Aurino, E.D. Gennaro, F.D. Iorio, A. Gauzzi, G. Lamura, A. Andreone, J. Appl. Phys. 98, 123901 (2005). DOI: 10.1063/1.2142097
[15] H. Yamada et al., Physica C 451, 107 (2007).
[16] A. Kamitani et al., Physica C 469, 1254 (2009).
[17] Н.Д. Кузьмичёв, ЖТФ 64, 63 (1994).
[18] Y. Mawatari, A. Sawa, H. Obara, M. Umeda, H. Yamasaki, Appl. Phys. Lett. 70, 2300 (1997). DOI: 10.1063/1.118842