Статья
Влияние сжимающих механических нагрузок на распределение критического тока в пакетах ВТСП-лент
И. И. Преображенский
НИЦ «Курчатовский институт», пл. Академика Курчатова, д. 1, 123182, Москва, Россия
Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Ленинские горы, д.1, 119991 Москва, Россия
e-mail: preo.ilya@yandex.ru
В. В. Гурьев
НИЦ «Курчатовский институт», пл. Академика Курчатова, д. 1, 123182, Москва, Россия
Д. Н. Диев
НИЦ «Курчатовский институт», пл. Академика Курчатова, д. 1, 123182, Москва, Россия
А. В. Наумов
НИЦ «Курчатовский институт», пл. Академика Курчатова, д. 1, 123182, Москва, Россия
А. В. Поляков
НИЦ «Курчатовский институт», пл. Академика Курчатова, д. 1, 123182, Москва, Россия
К. В. Мосеев
НИЦ «Курчатовский институт», пл. Академика Курчатова, д. 1, 123182, Москва, Россия
М. Н. Макаренко
НИЦ «Курчатовский институт», пл. Академика Курчатова, д. 1, 123182, Москва, Россия
С. В. Шавкин
НИЦ «Курчатовский институт», пл. Академика Курчатова, д. 1, 123182, Москва, Россия
УДК 538.945
Аннотация
В работе методом сканирующей холловской магнитометрии было изучено распределение захваченного магнитного поля в образцах луженых и нелуженых лент из высокотемпературных сверхпроводников (ВТСП) после механического сжатия пакетов лент. На основе полученных данных были рассчитаны значения среднего критического тока для всех исследованных образцов. Деградация токонесущей способности при приложении механической нагрузки в пакетах луженых лентах наступает при меньших значениях нагрузки, чем в пакетах нелуженых лент. Для луженых лент отмечается падение среднего значения критического тока более чем в два раза после приложения механической нагрузки в 400 МПа, чем в исходных лентах; для нелуженых лент при этих нагрузках падение критического тока составляет менее 25%. Полученные данные могут быть полезны при конструировании сильнотоковых токонесущих элементов на основе пакетов ВТСП лент для различных применений.
Ключевые слова: высокотемпературные сверхпроводники; критический ток; токовые характеристики; холловская магнитометрия.
Литература
[1] W. Dai, et al., ACS Appl. Mater. & Interf. 14, 49986 (2022). DOI: 10.1021/acsami.2c16293
[2] S. Takayama, et al., IEEE Trans. Appl. Supercond., 32, 1 (2022). DOI: 10.1109/TASC.2022.3160973
[3] M. Ohkubo, J. Appl. Phys., 134 (2023). DOI: 10.1063/5.0151581
[4] Е. П. Курбатова, Сверхпроводимость: фундаментальные и прикладные исследования 1, 40 (2023). DOI: 10.62539/2949-5644-2023-0-1-40-55
[5] M. Diaz, et al., Supercond. Sci. and Techn. 35, 055007 (2022). DOI: 10.1088/1361-6668/ac4d70
[6] H. Miyazaki, et al., IEEE Trans. Appl. Supercond., 25(3), 1-5 (2015). DOI: 10.1109/TASC.2014.2380783
[7] T. Takematsu, et al., Physica C: Supercond. and its appl. 470, 674 (2010). DOI: 10.1016/j.physc.2010.06.009
[8] K. Katagiri, et al., IEEE Trans. Appl. Supercond. 14, 1046 (2004). DOI: 10.1109/TASC.2004.830390
[9] A. Gorospe, et al., Physica C 494, 163 (2013). DOI: 10.1016/j.physc.2013.04.062
[10] M. Charalambous, et al., Phys. Rev. B 58, 9510 (1998). DOI: 10.1103/PhysRevB.58.9510
[11] I.H. Senevirathne, et al. Rev. Sci. Instruments 93, (2022). DOI: 10.1063/5.0083309
[12] I.A. Rudnev, et al., Phys. Solid State 65, (2023). DOI: 10.21883/PSS.2023.03.55577.540
[13] S. Lee, et al., Superconductor Sci. and Techn. 27, 044022 (2014). DOI: 10.1088/0953-2048/27/4/044022
[14] S. Ochiai, et al., Materials Transactions 51, 1663 (2010). DOI: 10.2320/matertrans.MAW201501
[15] M. Fee, et al., IEEE Trans. Appl. Supercond. 1, 3337 (2001). DOI: 10.1109/77.919777
[16] F. Gömöry, et al., Supercond. Sci. Technol. 32,124001 (2019). DOI: 10.1088/1361-6668/ab4638
[17] Y. Wang, et al. Sci. China Techn. Sci. 53, 2239 (2010). DOI: 10.1007/s11431-010-4033-1